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德国ElektroPhysik QuintSonic T分层膜厚仪是一种高精度的无损检测仪器，以下是其技术原理与测量精度的具体介绍：

技术原理

• 超声波反射原理：QuintSonic T的智能探头会发出超声波脉冲，这些脉冲进入覆层后，在覆层各层的结合面或与底材的临界面处，会有一部分脉冲被反射回来。传感器接收到这些反射的超声波脉冲后，通过测量脉冲在覆层中传播的时间以及已知的声波在介质中的速度，计算出覆层的厚度。

• A型扫描图像辅助：其QSoft软件可以显示测量时的A型扫描图像，即超声波脉冲在涂层中的传播情况。通过A型扫描图像，用户可以更直观地观察到超声波脉冲在涂层各层中的反射情况，从而更准确地确定涂层的厚度。同时，还可以通过参数设置来定义测量范围、抗干扰、回波诊断和预估截止带范围，以排除杂波的干扰，进一步提高测量的准确性。

• 多层测量技术：该仪器能够测量多达8层的涂层厚度，这得益于其先进的传感技术和软件算法，能够准确区分和识别不同涂层之间的反射信号，从而实现对多层涂层的精确测量。

测量精度

• 高分辨率：QuintSonic T的分辨率为0.1微米，这意味着它可以检测到非常微小的涂层厚度变化，为精确测量提供了基础。

• 高精度测量：其测量精度为±（1微米+1%读数），在使用横切标准板进行标定校准的前提下，能够保证测量结果的高精度和可靠性。例如，当测量厚度为100微米的涂层时，其测量误差范围仅为±1.1微米，这对于许多工业应用来说是非常精确的。

• 重复性和再现性：仪器的重复性和再现性好，即在相同条件下多次测量同一涂层厚度时，测量结果具有高度的一致性。这使得QuintSonic T分层膜厚仪在质量控制和生产过程中能够提供可靠的测量数据，有助于确保产品质量的稳定性和一致性。